產品介紹

XRF膜厚檢測儀(英國牛津) X-Strata 920桌上型

  • 結構精密、堅固耐用、質量控制可靠的桌上型X射線螢光光譜儀,可以進行精密快速的鍍層厚度測量和材料分析。
  • X-Strata系列能夠檢測極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等..)和其它薄鍍層
  • 無標準校準: Oxford支持使用標準以解決順應性和系統優化問題
  • 超大樣品台,便於大面積樣品測量,例如印刷電路板
  • 包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層
  • 5層/15種元素/普通元素校正
  • 同時為多達15種元素進行成份分析
  • 定性光譜分析元素ID,同時查看和比較多達四個光譜
  • 高速探測器信號處理電子設備,具有峰值位移校正功能
  • 光譜計數速率峰值位移校正
  • 系統自動調整和校正: 校正X射線導管、探測器和電子設備的變化
  • 準直器: 多個(最多6個)可編程、圓形、矩形(我們將幫您選擇適用的準直器)
  • 探測器過濾器: 最多3個、5個位置,可編程-馬達驅動: 提供釩、鐵、錫和其它元素
  • 自動測量重複功能
  • 安全機制: 多用戶多級密碼保護